DM2500
MMEDXRF輕中元素光譜儀
(通用型)
多(duo)單色激發實(shi)現高(gao)峰背比(bi),使(shi)能(neng)測元(yuan)素(B~Zn),
其準(zhun)確度(du)媲(pi)美大型波長色散光(guang)譜儀
通(tong)用(yong)型滿足各行各業(ye)任何種(zhong)類(lei)
物料元素濃度(du)的測(ce)量要求
采用
多單色激發能量色散X射線熒(ying)光(MMEDXRF)分析(xi)技術
對數螺線型雙(shuang)曲面彎(wan)晶(LSDCC)實現衍射并作為(wei)二次靶
高計數率(lv)、高分辨率(lv)、高透過率(lv)(AP3.3窗)SDD探測(ce)器
電壓、電(dian)流、靶材(cai)完美(mei)組合的微焦(jiao)斑(ban)薄鈹窗X射線管源(yuan)
符合(he)標準
GB/T3286.11
GB/T4333.5
YS/T63.16
GB/T24198
GB/T24231
GB/T34534
GB/T176
JB/T11145
JC/T1085
等
概述
DM2500MMEDXRF輕中元素光譜儀,詳稱DM2500多單(dan)色激發(fa)能量色散(san)X射線熒光輕中元(yuan)素(B~Zn)光譜儀,是本公(gong)司集數十(shi)年X熒光(guang)光(guang)譜儀的研究經(jing)驗,在公司(si)原有的DM系(xi)列X熒光硫(liu)鈣鐵分析(xi)儀(yi)、X熒光多元素分(fen)析儀、X熒光光譜儀等的(de)基(ji)礎上研制推出的(de)一種具創(chuang)新性的(de)XRF光譜儀。它采用(yong)多單(dan)色(se)激發能量色(se)散X射線熒光(MMEDXRF) ( Multiple Monochromatic Excitation Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)分析技術(shu)。主要部件,如(ru):單(dan)色晶體采(cai)用本公(gong)司研制的具有本公(gong)司專利的對數螺線旋(xuan)轉點對點聚(ju)焦鍺單(dan)色晶體,X射(she)線管采用KeyWay公司生產(chan)的50W微焦(jiao)點(dian)大輻射角(jiao)薄鈹窗X射(she)線管,并對其(qi)高壓、電流、靶材進行(xing)最佳組合, X射線探測器采用德國Ketek公司生產的具有高計數率(lv)(lv)、高能量分辨率(lv)(lv)、高透過率(lv)(lv)的常溫用(yong)SDD半導體X射線探(tan)測器(qi)。并且采用具有本公(gong)司自主知識產權的(de)(de)輕元素專(zhuan)用的(de)(de)光(guang)學(xue)系(xi)(xi)統及多種方法組合使(shi)用的(de)(de)多個單色激發系(xi)(xi)統等獨(du)有的(de)(de)技術,極(ji)大地提高了(le)儀器(qi)的(de)(de)靈敏度和峰背比。它還采用X射線向下照射系統,樣品自旋裝置,特別(bie)適合粉末壓片(pian)樣品,且(qie)可根據(ju)應用(yong)選擇真空系統或自充氣(qi)系統。由此使本光譜儀(yi)達(da)到國際領先水平。在與大(da)型波長(chang)色散(san)光譜儀(yi)的比較試驗(yan)中(zhong),其大(da)部分性能(neng)指標接(jie)近或達(da)到大(da)型波長(chang)色散(san)光譜儀(yi)的性能(neng)指(zhi)標(biao),某些(xie)甚至超過。其性能(neng)指(zhi)標(biao)相(xiang)(xiang)比進口同類產品(pin)更好,而價格(ge)僅(jin)為進口同類產品(pin)的一半(ban),具(ju)有無可(ke)比擬的價格(ge)性能(neng)比。另(ling)外國(guo)內企業售(shou)后服務的方便程度(du)是(shi)國(guo)外企業所無法相(xiang)(xiang)比的。且本光譜儀良好的屏蔽防(fang)護設計保(bao)證無任何(he)射線(xian)泄(xie)漏,滿足輻射豁免要求。
適用范圍
DM2500MEDXRF輕中元素光譜儀可用于各(ge)(ge)行各(ge)(ge)業所有(you)物料的(de)含量(liang)測量(liang)。無論環保(bao)、冶金、化(hua)工、地質(zhi)、礦山(shan)、電子電氣(qi)、食(shi)品等各(ge)(ge)行業,還是壓(ya)片、熔片、液(ye)體等各(ge)(ge)類(lei)型樣品,只要用戶所要求的(de)測量(liang)元素在(zai)B(5)~Zn(30)的范圍內(nei),DM2500都能進行準確(que)測量(liang)。其符合幾(ji)乎(hu)所(suo)有元素測定(ding)XRF光譜法標準的相(xiang)關要求,如:國家或行業標準GB/T 176—2017《水(shui)泥(ni)化學分析(xi)方法》、GB/T3286.11-2022《石灰石及白云石化學分析(xi)方法 第11部分:氧化鈣、氧化鎂、二氧化硅、氧化鋁及氧化鐵含量的測(ce)定 波長色散X射線熒光(guang)光(guang)譜(pu)法(熔鑄玻璃片法)》、GB/T4333.5-2016《 硅鐵 硅、錳、鋁、鈣、鉻和鐵含(han)量的測定 波長(chang)色散(san)X-射線熒(ying)光光譜法(fa)(熔鑄玻璃片(pian)法(fa))》、YS/T63.16—2019《鋁用(yong)碳素材料檢測方法 第(di)16部分:元素含(han)量的測定 波(bo)長色散X射線熒(ying)光(guang)(guang)光(guang)(guang)譜分析方法》、GB/T24198-2009《鎳鐵(tie).鎳、硅、磷、錳、鈷、鉻(ge)和銅(tong)含(han)量的(de)測定.波長色散X射線(xian)熒(ying)光光譜法(常規法)》等。其還符(fu)合行業標準JC/T1085—2008《水泥用X射線熒光(guang)分析儀》、JB/T11145—2011《X射線熒光光譜儀(yi)》。
如貴用(yong)(yong)戶對某些元(yuan)素的測量有(you)特(te)殊的要求,則本公司可根據用(yong)(yong)戶的要求更改(gai)單色(se)激發(fa)系統(tong)和(he)或軟(ruan)件系統(tong)以(yi)滿(man)足用(yong)(yong)戶對測量元(yuan)素的要求。
特點
快速同時–所(suo)需測量元素同時快速分析,一般幾十秒給出含(han)量結(jie)果。
高(gao)準(zhun)確度–采(cai)用先進MMEDXRF技術(shu),LSDCC核心技術(shu),根(gen)據(ju)所要測量(liang)的(de)元(yuan)素來選擇單色(se)光(guang)的(de)能量(liang)及(ji)產生單色(se)光(guang)的(de)方(fang)法(fa),極大地(di)提高了(le)儀(yi)器的(de)靈(ling)敏度(du)(du)和(he)峰背比(bi),具(ju)出色(se)的(de)重復性和(he)再現性,極高的(de)準確度(du)(du)。
向下(xia)照射(she)–采(cai)用X射(she)線向下照射(she)系統,杜絕了樣(yang)品(pin)粉(fen)末污染損壞探測系統的可能,特(te)別適合粉(fen)末壓片樣(yang)品(pin)。
樣品自旋(xuan)–具有樣品自旋裝置,消除了壓片樣品中(zhong)由于特硬(ying)物(wu)質的(de)存在而不易粉(fen)碎造成的(de)樣品不均勻(yun)性(xing)。
長(chang)期穩(wen)定–采用可變增益數字多道,有PHA自動調整、漂移校正(zheng)、偏差(cha)修正(zheng)等(deng)功能,具極好的長(chang)期穩定性。
環保節能–射線防護達豁(huo)免要求(qiu)。分析(xi)時不(bu)接觸(chu)不(bu)破壞樣品,無(wu)污(wu)染(ran),無(wu)需(xu)化學試劑,也不(bu)需(xu)要燃燒(shao)。
使用方便–觸摸屏操作。樣品(pin)粉碎壓片放(fang)入儀器后只(zhi)需(xu)按(an)[啟(qi)動]鍵即可,真(zhen)正實現一鍵操(cao)作。
高可靠性–一體化(hua)設計,集成化(hua)程度高(gao)(gao),環(huan)境適(shi)應能力(li)強,抗干擾能力(li)強,可靠性高(gao)(gao)。
高性(xing)價比–無(wu)需鋼瓶氣體,運(yun)行維(wei)護成本極低。價格為國外同類產(chan)品(pin)的一半。是(shi)真正的高性價比產(chan)品(pin)。
尖(jian)端技術
同標準型
校(xiao)準
X熒光(guang)分析方(fang)法是(shi)一種參考(kao)方(fang)法,校準(zhun)是(shi)為(wei)得到(dao)定量(liang)的結(jie)果(guo)所必須的。XRF光譜(pu)儀通(tong)過比較已知(zhi)標樣與(yu)未知(zhi)樣的光譜(pu)強(qiang)度來得到定量分析(xi)的結(jie)果。其某(mou)元素的含量計算(suan)式(shi)(即校準曲(qu)線)為:
C=D+EIC+FIC 2 (1)
式中,IC =f(I0),I0為原始強度(即原始道(dao)計(ji)數率),IC為(wei)處理(li)后強度(或(huo)修正(zheng)后強度),D、E、F是(shi)由校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)確(que)定(ding)的系數。校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)的方法是(shi):用光譜儀測量一系列校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)標準(zhun)(zhun)(zhun)樣(yang)品或有證標準(zhun)(zhun)(zhun)樣(yang)品的每種元素(su)強度,利用回歸分(fen)析,例如最(zui)小二(er)乘法,確(que)定(ding)(1)的系數(shu)。
用已知含量(liang)的(de)某(mou)單位鋁用碳素校準樣品對光譜儀進行校準,得到的(de)數據如(ru)表1。
表1.某單位鋁(lv)用碳(tan)素校準樣品校準結果數據(ju)(ppm)
元素 |
Na |
Si |
S(%) |
Ca |
V |
Fe |
Ni |
系數(shu)D |
-489.8 |
-66.93 |
-0.34 |
-276.9 |
-372.7 |
-158.1 |
-140.2 |
系數(shu)E |
0.9447 |
6.458 |
1.58 |
1.074 |
1.251 |
0.2932 |
0.854 |
系數(shu)F |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
0 |
相關(guan)系數γ |
0.9612 |
0.9971 |
0.9956 |
0.9833 |
0.9977 |
0.9561 |
0.9742 |
這(zhe)些校(xiao)準曲(qu)線的相關系數γ 均(jun)大于0.95,表示DM2500光譜儀的線性誤(wu)差極小。
重(zhong)復(fu)性
對某單位鋁用碳(tan)素(su)樣品中的某一(yi)樣品,進行(xing)11次測(ce)量,得到各(ge)元素的(de)重復性數據如表2。
表2.某(mou)單位鋁用碳素樣品(pin)重復性測(ce)量數據分(fen)析(ppm)
元素 |
Na |
Si |
S(%) |
Ca |
V |
Fe |
Ni |
理論(lun)值 |
111.5 |
223 |
1.56 |
311.8 |
410 |
242 |
242 |
平均示值(zhi) |
105.80 |
225.36 |
1.55 |
312.52 |
412.91 |
232.61 |
235.02 |
最(zui)大示值 |
108.09 |
228.23 |
1.56 |
315.88 |
418.04 |
234.13 |
237.35 |
最(zui)小示值 |
102.4 |
223.19 |
1.54 |
310.3 |
410.69 |
231.48 |
233.87 |
極差 |
5.69 |
5.04 |
0.02 |
5.58 |
7.35 |
2.65 |
3.48 |
示(shi)值(zhi)標準偏差(cha) |
2.11 |
2.13 |
0.0071 |
2.21 |
3.01 |
0.96 |
1.41 |
3倍(bei)示值標準偏差(儀器重復性限) |
6.33 |
6.39 |
0.021 |
6.63 |
9.03 |
2.88 |
4.23 |
GB/T176的重(zhong)復性限 |
15 |
23 |
0.033 |
15 |
15 |
9 |
8 |
YS/T63.16允許差 |
35 |
45 |
0.10 |
30 |
25 |
25 |
20 |
DM2500與(yu)YS/T63.16的(de)符合性 |
遠優 |
遠優 |
優 |
遠優 |
優 |
遠優(you) |
優 |
注:粉末壓片樣品。在X射(she)線源(yuan)為半功率(lv)(25W),測量時間為300s的條(tiao)件(jian)下(xia),連續進行11次測量所得的結果。
從上表可知:光(guang)譜儀的重復性限均小于行業標準YS/T63.16—2019《鋁用碳素材料(liao)檢測方法 第16部分:元素含量的測定 波長色散X射(she)線熒光光譜(pu)分析(xi)方法》所要求的重復性限。所以,DM2500光譜儀(yi)可實現(xian)優異的重復性,完全(quan)滿足(zu)YS/T63.16—2019有關(guan)重復性(xing)的要求。
主要技術指標
測量元素 |
可選擇B(5)~Zn(30)中的任意元素 |
X射線管 |
電壓(ya):≤50keV,電流:≤2mA,功率≤50W,靶材:Ag(Mo、Rh、Pd、Cr等可(ke)選) |
探測器 |
SDD,有效面積:20mm2,分辨率:≥123eV,計(ji)數率:≤2Mcps,入射(she)窗:AP3.3 |
檢測限(300s) |
C:2.0%,N:1.0%,O:0.5%,F:0.15%, Na:30ppm,Mg:20ppm,Al:10ppm,Si/P/S/Cl:2.0ppm,K-Zn:3.0ppm |
測(ce)量范圍 |
檢測限的3倍~99.99%。 |
重復性限 |
滿足幾乎(hu)所(suo)有元(yuan)素測(ce)定XRF光譜(pu)法標(biao)準的相關要求,如:GB/T 176—2017,GB/T3286.11-2022,GB/T4333.5-2016,YS/T63.16—2019,GB/T24198-2009等 |
系統測量(liang)時間 |
1~999s,推薦值為300s |
測量(liang)氛(fen)圍 |
自充氣系(xi)統或氦氣 |
使用(yong)條件 |
環境溫度:5~40℃,相對濕度(du):≤85%(30℃),供電(dian)(dian)電(dian)(dian)源:220V±20V,50Hz,≤200W |
尺寸(cun)及重量 |
540mm×500mm×450mm,35kg |
注:檢出限與樣品基體有關(guan)。