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DM2500

MMEDXRF輕中元素光譜儀

(通用型)


多(duo)單色激發實(shi)現高(gao)峰背比(bi),使(shi)能(neng)測元(yuan)素(BZn),

其準(zhun)確度(du)媲(pi)美大型波長色散光(guang)譜儀


通(tong)用(yong)型滿足各行各業(ye)任何種(zhong)類(lei)

物料元素濃度(du)的測(ce)量要求


采用

多單色激發能量色散X射線熒(ying)光(MMEDXRF)分析(xi)技術

對數螺線型雙(shuang)曲面彎(wan)晶(LSDCC)實現衍射并作為(wei)二次靶

高計數率(lv)、高分辨率(lv)、高透過率(lv)(AP3.3)SDD探測(ce)器

電壓電(dian)流靶材(cai)完美(mei)組合的微焦(jiao)斑(ban)薄鈹窗X射線管源(yuan)


符合(he)標準

GB/T3286.11

GB/T4333.5

YS/T63.16

GB/T24198

GB/T24231

GB/T34534

GB/T176

JB/T11145

JC/T1085


概述

DM2500MMEDXRF輕中元素光譜儀,詳稱DM2500多單(dan)色激發(fa)能量色散(san)X射線熒光輕中元(yuan)素(BZn)光譜儀,是本公(gong)司集數十(shi)年X熒光(guang)光(guang)譜儀的研究經(jing)驗,在公司(si)原有DM系(xi)列X熒光硫(liu)鈣鐵分析(xi)儀(yi)、X熒光多元素分(fen)析儀、X熒光光譜儀等的(de)基(ji)礎上研制推出的(de)一種具創(chuang)新性的(de)XRF光譜儀。它采用(yong)多單(dan)色(se)激發能量色(se)散X射線熒光(MMEDXRF) ( Multiple Monochromatic Excitation Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)分析技術(shu)。主要部件,如(ru):單(dan)色晶體采(cai)用本公(gong)司研制的具有本公(gong)司專利的對數螺線旋(xuan)轉點對點聚(ju)焦鍺單(dan)色晶體,X射(she)線管采用KeyWay公司生產(chan)的50W微焦(jiao)點(dian)大輻射角(jiao)薄鈹窗X射(she)線管,并對其(qi)高壓、電流、靶材進行(xing)最佳組合, X射線探測器采用德國Ketek公司生產的具有高計數率(lv)(lv)、高能量分辨率(lv)(lv)、高透過率(lv)(lv)的常溫用(yong)SDD半導體X射線探(tan)測器(qi)。并且采用具有本公(gong)司自主知識產權的(de)(de)輕元素專(zhuan)用的(de)(de)光(guang)學(xue)系(xi)(xi)統及多種方法組合使(shi)用的(de)(de)多個單色激發系(xi)(xi)統等獨(du)有的(de)(de)技術,極(ji)大地提高了(le)儀器(qi)的(de)(de)靈敏度和峰背比。它還采用X射線向下照射系統,樣品自旋裝置,特別(bie)適合粉末壓片(pian)樣品,且(qie)可根據(ju)應用(yong)選擇真空系統或自充氣(qi)系統。由此使本光譜儀(yi)達(da)到國際領先水平。在與大(da)型波長(chang)色散(san)光譜儀(yi)的比較試驗(yan)中(zhong),其大(da)部分性能(neng)指標接(jie)近或達(da)到大(da)型波長(chang)色散(san)光譜儀(yi)的性能(neng)指(zhi)標(biao),某些(xie)甚至超過。其性能(neng)指(zhi)標(biao)相(xiang)(xiang)比進口同類產品(pin)更好,而價格(ge)僅(jin)為進口同類產品(pin)的一半(ban),具(ju)有無可(ke)比擬的價格(ge)性能(neng)比。另(ling)外國(guo)內企業售(shou)后服務的方便程度(du)是(shi)國(guo)外企業所無法相(xiang)(xiang)比的。且本光譜儀良好的屏蔽防(fang)護設計保(bao)證無任何(he)射線(xian)泄(xie)漏,滿足輻射豁免要求。

適用范圍

DM2500MEDXRF輕中元素光譜儀可用于各(ge)(ge)行各(ge)(ge)業所有(you)物料的(de)含量(liang)測量(liang)。無論環保(bao)、冶金、化(hua)工、地質(zhi)、礦山(shan)、電子電氣(qi)、食(shi)品等各(ge)(ge)行業,還是壓(ya)片、熔片、液(ye)體等各(ge)(ge)類(lei)型樣品,只要用戶所要求的(de)測量(liang)元素在(zai)B(5)Zn(30)的范圍內(nei),DM2500都能進行準確(que)測量(liang)。其符合幾(ji)乎(hu)所(suo)有元素測定(ding)XRF光譜法標準的相(xiang)關要求,如:國家或行業標準GB/T 176—2017《水(shui)泥(ni)化學分析(xi)方法》、GB/T3286.11-2022《石灰石及白云石化學分析(xi)方法 第11部分:氧化鈣、氧化鎂、二氧化硅、氧化鋁及氧化鐵含量的測(ce)定 波長色散X射線熒光(guang)光(guang)譜(pu)法(熔鑄玻璃片法)》、GB/T4333.5-2016 硅鐵 硅、錳、鋁、鈣、鉻和鐵含(han)量的測定 波長(chang)色散(san)X-射線熒(ying)光光譜法(fa)(熔鑄玻璃片(pian)法(fa))》、YS/T63.16—2019《鋁用(yong)碳素材料檢測方法 第(di)16部分:元素含(han)量的測定 波(bo)長色散X射線熒(ying)光(guang)(guang)光(guang)(guang)譜分析方法》、GB/T24198-2009《鎳鐵(tie).鎳、硅、磷、錳、鈷、鉻(ge)和銅(tong)含(han)量的(de)測定.波長色散X射線(xian)熒(ying)光光譜法(常規法)》等。其還符(fu)合行業標準JC/T1085—2008《水泥用X射線熒光(guang)分析儀》、JB/T11145—2011X射線熒光光譜儀(yi)》。

如貴用(yong)(yong)戶對某些元(yuan)素的測量有(you)特(te)殊的要求,則本公司可根據用(yong)(yong)戶的要求更改(gai)單色(se)激發(fa)系統(tong)和(he)或軟(ruan)件系統(tong)以(yi)滿(man)足用(yong)(yong)戶對測量元(yuan)素的要求。


特點

快速同時所(suo)需測量元素同時快速分析,一般幾十秒給出含(han)量結(jie)果。

高(gao)準(zhun)確度采(cai)用先進MMEDXRF技術(shu),LSDCC核心技術(shu),根(gen)據(ju)所要測量(liang)的(de)元(yuan)素來選擇單色(se)光(guang)的(de)能量(liang)及(ji)產生單色(se)光(guang)的(de)方(fang)法(fa),極大地(di)提高了(le)儀(yi)器的(de)靈(ling)敏度(du)(du)和(he)峰背比(bi),具(ju)出色(se)的(de)重復性和(he)再現性,極高的(de)準確度(du)(du)。

向下(xia)照射(she)采(cai)用X射(she)線向下照射(she)系統,杜絕了樣(yang)品(pin)粉(fen)末污染損壞探測系統的可能,特(te)別適合粉(fen)末壓片樣(yang)品(pin)。

樣品自旋(xuan)具有樣品自旋裝置,消除了壓片樣品中(zhong)由于特硬(ying)物(wu)質的(de)存在而不易粉(fen)碎造成的(de)樣品不均勻(yun)性(xing)。

長(chang)期穩(wen)定采用可變增益數字多道,有PHA自動調整、漂移校正(zheng)、偏差(cha)修正(zheng)等(deng)功能具極好的長(chang)期穩定性。

環保節能射線防護達豁(huo)免要求(qiu)。分析(xi)時不(bu)接觸(chu)不(bu)破壞樣品,無(wu)污(wu)染(ran),無(wu)需(xu)化學試劑,也不(bu)需(xu)要燃燒(shao)。

使用方便觸摸屏操作。樣品(pin)粉碎壓片放(fang)入儀器后只(zhi)需(xu)按(an)[啟(qi)動]鍵即可,真(zhen)正實現一鍵操(cao)作。

高可靠性一體化(hua)設計,集成化(hua)程度高(gao)(gao),環(huan)境適(shi)應能力(li)強,抗干擾能力(li)強,可靠性高(gao)(gao)。

高性(xing)價比無(wu)需鋼瓶氣體,運(yun)行維(wei)護成本極低。價格為國外同類產(chan)品(pin)的一半。是(shi)真正的高性價比產(chan)品(pin)。

尖(jian)端技術


同標準型

校(xiao)準

X熒光(guang)分析方(fang)法是(shi)一種參考(kao)方(fang)法,校準(zhun)是(shi)為(wei)得到(dao)定量(liang)的結(jie)果(guo)所必須的。XRF光譜(pu)儀通(tong)過比較已知(zhi)標樣與(yu)未知(zhi)樣的光譜(pu)強(qiang)度來得到定量分析(xi)的結(jie)果。其某(mou)元素的含量計算(suan)式(shi)(即校準曲(qu)線)為:

CDEICFIC 2                                                     1

式中,IC =f(I0)I0為原始強度(即原始道(dao)計(ji)數率),IC為(wei)處理(li)后強度(或(huo)修正(zheng)后強度),DEF是(shi)由校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)確(que)定(ding)的系數。校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)的方法是(shi):用光譜儀測量一系列校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)標準(zhun)(zhun)(zhun)樣(yang)品或有證標準(zhun)(zhun)(zhun)樣(yang)品的每種元素(su)強度,利用回歸分(fen)析,例如最(zui)小二(er)乘法,確(que)定(ding)(1)的系數(shu)。

用已知含量(liang)的(de)某(mou)單位鋁用碳素校準樣品對光譜儀進行校準,得到的(de)數據如(ru)表1

1.某單位鋁(lv)用碳(tan)素校準樣品校準結果數據(ju)(ppm

元素

Na

Si

S(%

Ca

V

Fe

Ni

系數(shu)D

-489.8

-66.93

-0.34

-276.9

-372.7

-158.1

-140.2

系數(shu)E

0.9447

6.458

1.58

1.074

1.251

0.2932

0.854

系數(shu)F

0

0

0

0

0

0

0

相關(guan)系數γ

0.9612

0.9971

0.9956

0.9833

0.9977

0.9561

0.9742

這(zhe)些校(xiao)準曲(qu)線的相關系數γ 均(jun)大于0.95,表示DM2500光譜儀的線性誤(wu)差極小。

重(zhong)復(fu)性

對某單位鋁用碳(tan)素(su)樣品中的某一(yi)樣品,進行(xing)11次測(ce)量,得到各(ge)元素的(de)重復性數據如表2

2.某(mou)單位鋁用碳素樣品(pin)重復性測(ce)量數據分(fen)析(ppm

元素

Na

Si

S(%

Ca

V

Fe

Ni

理論(lun)值

111.5

223

1.56

311.8

410

242

242

平均示值(zhi)

105.80

225.36

1.55

312.52

412.91

232.61

235.02

最(zui)大示值

108.09

228.23

1.56

315.88

418.04

234.13

237.35

最(zui)小示值

102.4

223.19

1.54

310.3

410.69

231.48

233.87

極差

5.69

5.04

0.02

5.58

7.35

2.65

3.48

示(shi)值(zhi)標準偏差(cha)

2.11

2.13

0.0071

2.21

3.01

0.96

1.41

3倍(bei)示值標準偏差(儀器重復性限)

6.33

6.39

0.021

6.63

9.03

2.88

4.23

GB/T176重(zhong)復性限

15

23

0.033

15

15

9

8

YS/T63.16允許差

35

45

0.10

30

25

25

20

DM2500與(yu)YS/T63.16的(de)符合性

遠優

遠優

遠優

遠優(you)

注:粉末壓片樣品。在X射(she)線源(yuan)為半功率(lv)(25W),測量時間為300s的條(tiao)件(jian)下(xia),連續進行11次測量所得的結果。

從上表可知:光(guang)譜儀的重復性限均小于行業標準YS/T63.16—2019《鋁用碳素材料(liao)檢測方法 第16部分:元素含量的測定 波長色散X射(she)線熒光光譜(pu)分析(xi)方法》所要求的重復性限。所以,DM2500光譜儀(yi)可實現(xian)優異的重復性,完全(quan)滿足(zu)YS/T63.16—2019有關(guan)重復性(xing)的要求


主要技術指標


測量元素

可選擇B(5)Zn(30)中的任意元素

X射線管

電壓(ya):≤50keV,電流:≤2mA,功率≤50W,靶材:AgMoRhPdCr等可(ke)選)

探測器

SDD,有效面積:20mm2,分辨率:≥123eV,計(ji)數率:≤2Mcps,入射(she)窗:AP3.3

檢測限(300s

C2.0%N1.0%O0.5%F0.15%

Na30ppmMg20ppmAl10ppmSi/P/S/Cl2.0ppmK-Zn3.0ppm

測(ce)量范圍

檢測限的3倍~99.99%

重復性限

滿足幾乎(hu)所(suo)有元(yuan)素測(ce)定XRF光譜(pu)法標(biao)準的相關要求,如:GB/T 176—2017GB/T3286.11-2022GB/T4333.5-2016YS/T63.16—2019GB/T24198-2009

系統測量(liang)時間

1999s,推薦值為300s

測量(liang)氛(fen)圍

自充氣系(xi)統或氦氣

使用(yong)條件

環境溫度:540℃,相對濕度(du):≤85%(30),供電(dian)(dian)電(dian)(dian)源:220V±20V50Hz≤200W

尺寸(cun)及重量

540mm×500mm×450mm35kg

注:檢出限與樣品基體有關(guan)。